Computerworld.pl
Konferencje
Badania redakcyjne
Tematy
Agile
AI (Artificial Intelligence)
Aplikacje Biznesowe
Bezpieczeństwo
Big Data
Cloud Computing
DataCenter
SDN
Sieci
Smart City
Sprzęt B2B
Praca w IT
Przemysł 4.0
Digital Leaders
Badanie AudIT
Biblioteka IT
TOP200
Strefy tematyczne
Efektywna praca hybrydowa
Sieci w logistyce
Raportowanie ESG - wszystko, co trzeba wiedzieć
Atman 30 lat Internetu komercyjnego
×
Szukaj
Konferencje
Wiadomości
CIO Executive
Podcasty
Badania redakcyjne
Okiem Prezesa
Wywiady
Badanie AudIT
Biblioteka IT
Praca w IT
Tematy
Agile
AI (Artificial Intelligence)
Aplikacje Biznesowe
Bezpieczeństwo
Big Data
Cloud Computing
DataCenter
SDN
Sieci
Smart City
Sprzęt B2B
Praca w IT
Przemysł 4.0
Digital Leaders
Strefy tematyczne
Efektywna praca hybrydowa
Sieci w logistyce
Raportowanie ESG - wszystko, co trzeba wiedzieć
Atman 30 lat Internetu komercyjnego
TOP200
Kiosk
Archiwum
Newslettery
Strona główna
Temat
analiza danych
Temat: analiza danych
CIO nowej generacji
Wanda Żółcińska, IDG News Service
CIO nowej generacji będzie musiał wiedzieć, w jaki sposób technologia wpływa na poszczególne obszary działalności korporacji, jednocześnie utrzymując tradycyjne funkcje zarządzania IT. Istotne będzie zwłaszcza zarządzanie urządzeniami mobilnymi i lepsza analityka danych - wynika z wypowiedzi panelistów uczestniczących w spotkaniu MIT Sloan CIO Symposium w Cambridge w stanie Massachusetts.
Jak dzięki platformom społecznościowym wywierać wpływ na decyzje konsumenckie
Dorota Konowrocka
Dzięki współczesnych systemom informatycznym i platformom społecznościowym działy marketingu skuteczniej niż wcześniej mogą rozpoznawać potrzeby klientów.
Bomba na Times Square: data mining w walce z terroryzmem
IDG News Service, Krzysztof Piątek
Incydent z bombą na Times Square pokazał, że korzystanie z data mining w walce z terrorystami przypomina przewidywanie pogody: można przewidzieć burzę na danym obszarze, ale nie da się obliczyć gdzie upadnie konkretna kropla.
Poprzednia
strona
1
2
3
4
5
Reklama zamknie się za 15 sekund. Przejdź do serwisu »