Optoelektroniczna kontrola wymiarowa

Idea statystycznej kontroli procesów (SPC - Statistical Process Control), jako efektywnej metody bieżącej kontroli jakości, powstała w USA jeszcze przed II wojną światową.

Idea statystycznej kontroli procesów (SPC - Statistical Process Control), jako efektywnej metody bieżącej kontroli jakości, powstała w USA jeszcze przed II wojną światową.

Większość z japońskich sukcesów technicznych wynika z zastosowania metod SPC w masowej skali. W Europie renesans tych metod nastąpił dopiero w latach 80., co jest związane z upowszechnianiem się normy ISO 9000.

Kontrola wyrywkowa

Statystyczne metody kontroli jakości pozwalają na wyeliminowanie większości braków - nie wszystkie produkowane elementy są poddawane kontroli jakości. Program STAT9000, autorstwa wrocławskiej firmy Optosoft umożliwia gromadzenie i opracowywanie danych pomiarowych, a zastosowany do obsługi elektronicznych urządzeń pomiarowych, pozwala na wyeliminowanie ręcznego wprowadzania danych. Program pomaga obliczyć parametry statystyczne takie, jak wartości średnie, wariancję, prawdopodobieństwo wystąpienia defektów, zdolność względną i bezwzględną procesu, korelacje itp.

Kontrola całkowita

Są jednak takie dziedziny produkcji, gdzie wymagana jest absolutna pewność, że każdy z wypuszczonych detali będzie ściśle odpowiadał normom. W takich wypadkach stosuje się stuprocentową kontrolę jakości. Kontrolę mechaniczną najprościej można zrelizować za pomocą kamery TV typu CCD (Compled Charge Device), szybkiego mikrokomputera i odpowiedniego oprogramowania. Pozwala to na szybkie dokonywanie pomiarów nawet złożonych elementów. Jedno z rozwiązań, opracowane przez polski Optosoft, wykorzystuje w tym celu kamerę TV - CCD, szybki komputer Motoroli z magistralą VME. Obraz badanego detalu przekazywany jest za pomocą kamery i karty interfejsu do pamięci komputera. Tam następuje obliczanie (w czasie rzeczywistym) charakterystycznych kątów, odległości, porównywanie promieni łuków czy wyznaczanie odchyłek kształtu. W wyniku porównania z wartościami wzorcowymi, automatyczna klasyfikacja umożliwia sortowanie detali. Długość procesu pomiaru zależy od szybkości komputera, stopnia dokładności oceny i złożoności pomiaru. Na ogół dla typowych zastosowań waha się od 0,1 do 10 s. Dokładność pomiaru zależy od rozdzielczości karty interfejsu kamery i jakości układów optycznych oraz typowych zastosowań, wynosi 1/5000 i 1/50000 wielkości pola widzenia kamery. Na przykład dla detalu o długości 30 mm błąd pomiaru mieści się w przedziale 0,8-7 ćm.

Program umożliwia statystyczną obróbkę wyników pomiarów, znacznie ułatwiającą diagnozowanie i wykrywanie źródeł ewentualnych błędów w procesie produkcji oraz pozwala na archiwizację danych pomiarowych.

Ze względu na różnorodność zastosowań, oprogramowanie powinno być tworzone specjalnie dla konkretnych potrzeb użytkowników.

Firmą oferującą optoelektroniczne systemy pomiarowe jest Optosoft, Wrocław, tel. 48 26 29.

W celu komercyjnej reprodukcji treści Computerworld należy zakupić licencję. Skontaktuj się z naszym partnerem, YGS Group, pod adresem [email protected]

TOP 200